BS DD IEC/TS 62433-1-2011 EMCIC模型设计.通用模型设计框架
作者:标准资料网 时间:2024-05-14 11:05:55 浏览:8277
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【英文标准名称】:EMCICmodelling.Generalmodellingframework
【原文标准名称】:EMCIC模型设计.通用模型设计框架
【标准号】:BSDDIEC/TS62433-1-2011
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2011-06-30
【实施或试行日期】:2011-06-30
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Chips;Circuits;Definitions;Electromagnetic;Electromagneticcompatibility;Electrotechnology;EMC;Emission;Emitting;Highfrequencies;Immunity;Influencequantities;Influences;Integratedcircuits;Interfaces;Interferencerejections;Interferingemissions;Measurement;Measuringtechniques;Microelectronics;Printed-circuitboards;Radiation
【摘要】:
【中国标准分类号】:L56
【国际标准分类号】:31_200;33_100_20
【页数】:16P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:EMCIC模型设计.通用模型设计框架
【标准号】:BSDDIEC/TS62433-1-2011
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2011-06-30
【实施或试行日期】:2011-06-30
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Chips;Circuits;Definitions;Electromagnetic;Electromagneticcompatibility;Electrotechnology;EMC;Emission;Emitting;Highfrequencies;Immunity;Influencequantities;Influences;Integratedcircuits;Interfaces;Interferencerejections;Interferingemissions;Measurement;Measuringtechniques;Microelectronics;Printed-circuitboards;Radiation
【摘要】:
【中国标准分类号】:L56
【国际标准分类号】:31_200;33_100_20
【页数】:16P;A4
【正文语种】:英语
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